预对中钨灯丝
热发射电子枪维护直观，适合高频常规检测与教学场景。
MicroST Desktop SEM
MicroST DTE200
台式热发射扫描电子显微镜
预对中钨灯丝电子枪与大样品仓设计，支持二次电子、背散射、导航相机和 IR-CCD 监控，适合常规检测、教学实验与材料表面形貌分析。
≤5 nm@ 30 kV
1-30 kV1 kV 步进
200,000×最高倍率
200 mm样品尺寸
Highlights
亮点功能
静电透镜设计
样品室内无漏磁，可对铁磁性材料进行无畸变成像。
四通道成像
可同时获得二次电子像与背散射电子图像，提升观察效率。
大样品仓
抽屉式拉门样品室，支持最大 200 mm 样品与 50 mm 厚度。
Specifications
规格参数
分辨率≤5 nm @ 30 kV（二次电子）。
放大倍率30 - 200,000 倍，随加速电压和工作距离自动校准。
加速电压1 kV - 30 kV，1 kV 步进连续可调。
电子枪与束流预对中钨灯丝；落地束流 10 pA - 50 nA；支持 Beam Shift。
工作距离5 - 50 mm；能谱 36° 出射角分析时，工作距离可近到 13.5 mm 以内。
样品室抽屉式拉门，内径/宽度不小于 220 mm，高度不小于 150 mm。
样品台三轴全自动马达样品台，X/Y 70 mm，Z 50 mm；配 19 孔样品座。
探测器样品室二次电子探测器、固定式背散射探测器、IR-CCD 监控相机、导航相机；预留 EDS、EBSD、CL 接口。
真空系统高性能无油涡旋分子泵与前级机械泵；样品室真空优于 10E-2 Pa。
图像记录预览 640×480；最大 8192×6144 像素；支持 TIFF、BMP、PNG、JPEG。
控制系统MicroST EBeamView 客户端软件，多功能旋钮控制面板，集成式控制台、键盘与鼠标。
Applications
应用案例
精密颗粒
观察颗粒形貌、尺寸分布与表面细节。
材料断面
用于断口、截面和多相材料微观结构分析。
表面分布
辅助观察表面颗粒、缺陷与微区形貌变化。